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大家應(yīng)該都知道雷擊浪涌發(fā)生器的存在，而雷擊浪涌發(fā)生器主要用于評(píng)估鐵道信號(hào)設(shè)備與電源線連接的設(shè)備抗沖擊抗擾度試驗(yàn)的一款設(shè)備，那么關(guān)于雷擊浪涌會(huì)對(duì)電子設(shè)備造成什么樣的影響呢？下面雷擊浪涌發(fā)生器廠家就給大家講一講吧

雷擊浪涌產(chǎn)生的時(shí)間非常短，大概在微微秒級(jí)。浪涌出現(xiàn)時(shí)，電壓電流的幅值超過(guò)正常值的兩倍以上。由于輸入濾波電容迅速充電，所以該峰值電流遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)輸入電流。電源應(yīng)該限制AC開(kāi)關(guān)、整流橋、保險(xiǎn)絲、EMI濾波器件能承受的浪涌水平。反復(fù)開(kāi)關(guān)環(huán)路，AC輸入電壓不應(yīng)損壞電源或者導(dǎo)致保險(xiǎn)絲燒斷

1、電壓波動(dòng)。在正常工作情況下，機(jī)器設(shè)備會(huì)自動(dòng)停止或啟動(dòng)。用電設(shè)備中有空調(diào)、壓縮機(jī)、電梯、泵或電機(jī)，電腦控制系統(tǒng)經(jīng)常出現(xiàn)無(wú)理由復(fù)位。電機(jī)經(jīng)常要更換或重繞。電氣設(shè)備由于故障、復(fù)位或電壓?jiǎn)栴}而縮短使用壽命。

2、對(duì)設(shè)備造成破壞。電壓擊穿半導(dǎo)體器件，破壞元器件金屬化表層，破壞印刷電路板印刷線路或接觸點(diǎn)，破壞三端雙可控硅元件/晶閘管。

3，對(duì)設(shè)備造成使用干擾。鎖死、晶閘管或三端雙向可控硅元件失控，數(shù)據(jù)文件部分破壞，數(shù)據(jù)處理程序出錯(cuò)，接收、傳輸數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤和失敗，過(guò)早老化，零部件提前老化、電器壽命大大縮短，輸出音質(zhì)、畫面質(zhì)量下降。

以上就是雷擊浪涌發(fā)生器廠家為你講解雷擊浪涌會(huì)對(duì)于電子設(shè)備造成什么樣的影響